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              低溫試驗(yàn)-第三方檢測(cè)中心

              發(fā)布時(shí)間: 2024-04-11  點(diǎn)擊次數(shù): 397次

              低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性,常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。中科檢測(cè)開(kāi)展低溫試驗(yàn)服務(wù),具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。

              低溫試驗(yàn)方法

              將試驗(yàn)樣品放入溫度為實(shí)驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。

              當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間,對(duì)于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品(即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品),應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到溫度后通電,根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)。

              這種情況下,可能還需要一段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定,然后試驗(yàn)樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。

              低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

              GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫

              GB/T 4857.2——2005,ISO 2233:2000 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第 2 部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理

              GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 4 部分:低溫試驗(yàn)

              QC/T 413-2002 汽車(chē)電氣設(shè)備基本技術(shù)條件

              GB/T 6587-2012 電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范

              低溫試驗(yàn)服務(wù)優(yōu)勢(shì)

              中科檢測(cè)——專(zhuān)業(yè)的咨詢(xún)服務(wù)

              中科檢測(cè)——全面的測(cè)試能力

              中科檢測(cè)——詳盡的技術(shù)方案

              中科檢測(cè)——高效的測(cè)試服務(wù)

              中科檢測(cè)——良好的客戶(hù)體驗(yàn)

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